华邦电子股份有限公司申请的 “半导体存储装置” 专利（公开号 CN 118824342 A）可以检测错误位。该专利中的半导体存储装置主要通过以下部分来实现错误位检测功能：

1、错误位检测部：以位为单位检测半导体存储装置的读取数据以及预期数据是否一致，输出通过或失败信息的错误位数据，该通过或失败信息显示检测到的每个位是否一致。

2、位计数部：计数错误位数据中，显示读取数据与预期数据的不一致的错误位数，或显示一致的数量的通过位数。

3、输入输出接口：在读取动作中，设有用以输入外部的预期值的接口以及输出错误位数及 / 或通过位数代替读取数据的接口。