卓胜微射频开关的插入损耗（Insertion Loss, IL），是指射频信号通过开关从输入端口传输到输出端口时，因开关内部导体电阻、介质损耗、接口不匹配等因素导致的信号功率衰减，核心是衡量信号传输过程中的 “功率损失程度”。

其具体含义可通过以下关键点进一步理解：

• 本质属性：插入损耗是射频开关的核心性能指标之一，数值越低越好。例如，一款高性能射频开关的插入损耗可能低至 0.3dB 以下，意味着信号通过开关后，仅约 7% 的功率被损耗（dB 是对数单位，1dB 损耗对应约 20% 的功率损失）。
• 影响因素：主要与开关的设计结构（如单刀单掷、单刀多掷）、制造工艺（如 CMOS、GaAs 工艺）、工作频段（高频段损耗通常更高）及端口阻抗匹配度相关。卓胜微的射频开关会通过优化工艺（如采用低阻金属布线）和结构设计，来降低插入损耗。
• 实际意义：在 5G 智能手机、物联网设备等应用中，低插入损耗能减少射频信号的衰减，确保接收端获得更强的有效信号，进而提升通信质量（如降低通话杂音、减少数据传输误码率），同时降低整个射频系统的功耗（无需额外放大信号来补偿损耗）。