华邦电子官方技术资料W25Q128BV系列NOR Flash的使用寿命参数如下：

1. 擦写寿命（Endurance）

• 10万次擦写循环（每个扇区/块）：
• 该系列NOR Flash的每个存储单元可承受10万次编程/擦除操作，符合工业级标准。
• 注意：频繁擦写同一区块会加速局部老化，建议通过磨损均衡算法分散写入区域。

2. 数据保持时间（Data Retention）

• 20年以上（25℃环境下）：
• 在常温（25℃）条件下，数据可保存超过20年。
• 高温环境衰减：
• 若长期工作在85℃高温下，数据保持时间仍可保证10年。

3. 影响因素与建议

• 温度：高温（>85℃）或低温（<-40℃）可能缩短寿命，建议选择工业级型号（如W25Q128JV，支持-40℃~85℃）。
• 电压稳定性：工作电压需保持在2.7V~3.6V5，异常电压可能导致擦写失败或数据损坏。
• 应用场景：
• 高频率擦写（如日志存储）：建议启用ECC纠错或选择HyperRAM等更耐用的替代方案。
• 长期存储（如固件代码）：无需担忧寿命问题，因NOR Flash的读取操作不影响寿命。

总结

W25Q128BV的寿命表现为：

• 擦写次数：10万次（符合JEDEC标准）
• 数据保存：20年（25℃） / 10年（85℃）