一种基于光耦的过零检测电路的制作方法

　　本发明所要解决的技术问题是，克服现有技术的缺点，提供一种基于光耦的过零检测电路，结构简单，成本低廉，稳定可靠。本发明解决以上技术问题的技术方案是一种基于光耦的过零检测电路，包括交流信号输入端L和N，两个交流信号限流电阻Rl和R2 —个光耦U1、一个三极管Ql以及外围电阻和电容;交流信号输入端L和N为过零检测电路的输入端，其中交流信号输入端L接市电220V的火线，交流信号输入端N接市电220V的零线;两个限流电阻Rl和R2串联后一端接交流信号输入端L，另一端接光耦Ul的正向输入端，光耦Ul的另一输入端接交流信号输入端N;光耦Ul的集电极输出端接三极管Ql的基极。

　　并通过一电阻R3接电源，光耦Ul的另一输出端接三极管Ql的发射极，并接地;三极管Ql的集电极通过一电阻R5接外部检测端口 ;当交流电处于正半周时，光耦Ul的发光二极管导通并发光，致使内部的光敏三极管导通，并输出低电平，使与之相连的三极管Ql截止并输出高电平;当交流电处于负半周时，光耦Ul的发光二极管截止，致使内部的光敏三极管截止，并输出高电平，使与之相连的三极管Ql导通并输出低电平。