一种光耦失效分析方法

　　本发明提供了一种光耦失效分析方法，该方法包括以下步骤：A、对失效光耦进行外观检查，查看是否有明显磨损、开裂等现象;B、对比失效光耦和良品光耦的电性测试图，分析可能的失效原因;C、对比失效光耦和良品光耦的X-Ray透射图片，寻找可能的失效原因;D、对失效光耦进行机械开封和化学开封，对开封后的失效光耦进行扫描电子显微镜观察和能谱仪分析;E、综合分析，确定失效光耦的具体失效原因。本发明有如下优点：本发明方法借助有限的分析仪器，在短时间内快速找到光耦失效的原因。

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