放大器通频带自动测试系统的设计与实现

　　集成电路的广泛使用以及表面封装技术的不断发展,传统测试技术越来越显得捉襟见肘,在模拟集成电路测试上尤为突出。为了提高模拟集成电路的可测性设计,降低其测试难度及测试工作量,以集成运算放大器为例,结合放大器频率响应理论,提出了利用脉冲信号测量放大器通频带的方法。介绍了测试原理及测试思路,设计并实现了简单的放大器通频带自动测试系统。将实验结果与传统测试方法所得数据进行了对照,验证了其可行性,系统具有结构简单、易于实现和集成等特点。

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