光耦验证替换实验
深圳市科辉特电子有限公司
发表:2023-09-06 06:29:12 阅读:158

  光耦输入接口电路测试实验结果与改进方案

  实验目的:

  通过对某某(不好意思,保密需要,下同)CNC系统输入电路的研究,拟在不改变电路的情况下,改变相关器件参数值,达到其它CNC系统输入电路的性能,以满足实际工作要求。

  某某CNC系统的现状:输入接口在低电平状态、高电平状态、由低电平到高电平或高电平向低电平转换、跳变过程中,存在误关断、误触发、误导通的现象。比如,某某CNC系统配某某机床厂某某型号机床,用于检测主轴变频器的速度到达和零速的两输入信号偶尔出现常有效状态;又如:某某机床厂用接近开关作为机床的PC信号,在常开的状态下(未感应到铁块时),接近开关的输出端有时会有3V至5V的电压(感性负载),以至系统一直处于误导通(高电平)状态。

  针对系统个别情况下,不能稳定触发、关断的现象,做此测试。给出系统高低电平(跳变)的电压范围,并提出改进方案。

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