光耦过零检测
深圳市科辉特电子有限公司
发表:2023-09-06 17:21:46 阅读:147

  MOC系列光耦及过零检测

  驱动大功率交流器件时常用双向可控硅进行功率控制,根据控制方式的不同有过零控制和移相控制。不管哪种控制都要对零点进行检测,因为双向过控硅的特性是到了交流的零点,可控硅会自动关闭输出。我们检测零点目的就是可控硅在零点关闭输出后,我们可以根据功率的需求选择时间来重新触发可控硅。

  但对于单片机弱电直接控制交流肯定是不现实的,用继电器控制只能实现简单的慢速的开关量控制,而如果要实现功率调节,我们就需要用光特性的固态继电器,这种器件比较贵。而假如用光耦肯定也是不行的,因为普通的光耦是单向器件,对于交流的网电它是不能实现控制的,在这种情况下,我们最好的选择就是用MOC系列的光控可控硅,用得最多的MOC3041和MOC3021,它们的前端触发电流都是15mA,隔离电压达到5000Vrms,适合于对电绝缘特性要求高的医疗电子行业。

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